西門子 EDI 模塊(以主流 IONPURE LX 系列為代表,含 IP-LXM45Z、IP-LXM10X 等型號)的硅(以 SiO?計)去除率為 90%-99%,主要取決于進水條件。在滿足進水水質(zhì)要求的前提下,若進水硅含量≤1.0ppm(RO 產(chǎn)水標準),產(chǎn)水硅可穩(wěn)定降至 0.01-0.1ppm 以下;針對半導體、制藥等高端場景的專用型號(如 IP-LXM10X),硅去除率可進一步提升至 95% 以上,產(chǎn)水硅含量控制在 0.05ppm 以內(nèi),完全滿足工業(yè)超純水制備需求。

一、硅去除率的技術(shù)原理:為何西門子 EDI 能實現(xiàn)高效脫硅?
西門子 EDI 模塊采用連續(xù)電去離子(CEDI)技術(shù),其硅去除能力源于離子交換樹脂、離子交換膜與電場的協(xié)同作用,核心機制如下:
1.離子化轉(zhuǎn)化與吸附:水中的硅主要以活性硅(硅酸)形式存在,在 EDI 模塊的電場環(huán)境中,硅酸發(fā)生電離生成 SiO?2?等帶電離子,被填充在濃水室的離子交換樹脂吸附捕獲;
電場遷移與截留:通過施加直流電場(電壓 0-400V,電流 1-6A),帶電硅離子在電場力作用下向?qū)?yīng)電極遷移,被離子交換膜(陽離子膜、陰離子膜)選擇性截留于濃水室,最終隨濃水排出;
2.專利結(jié)構(gòu)強化脫除:LX 系列模塊采用 “全填充” 濃水室設(shè)計,無死角的樹脂填充結(jié)構(gòu)擴大了離子吸附面積,配合厚隔板與雙 O 型圈密封,避免水流短路導致的硅泄漏,進一步提升去除效率。
需特別說明:硅的化學性質(zhì)特殊,中性 pH 條件下(7.0 左右)幾乎不帶電,難以被常規(guī)工藝去除。西門子 EDI 通過優(yōu)化電場強度與樹脂配比,即使在 pH 4-11 的寬范圍進水條件下,仍能高效轉(zhuǎn)化并截留硅離子,解決了傳統(tǒng)工藝的脫硅難題。
二、常見誤區(qū)與優(yōu)化建議
誤區(qū) 1:認為 EDI 模塊可直接處理高硅原水 —— 正確做法:必須經(jīng) RO 預處理將硅降至 1.0ppm 以下,必要時在 RO 系統(tǒng)前增設(shè)軟化或除硅預處理單元;
誤區(qū) 2:追求過高回收率而犧牲脫硅效果 —— 優(yōu)化方案:根據(jù)進水硅含量調(diào)整回收率,高硅進水(0.8-1.0ppm)時,回收率控制在 90% 為宜;
誤區(qū) 3:忽視清洗導致硅去除率持續(xù)下降 —— 解決措施:當產(chǎn)水硅含量上升 10% 或電阻率低于 10MΩ?cm 時,及時用專用清洗劑(如堿性清洗劑)清洗模塊。
所以,西門子 EDI 模塊的 90%-99% 硅去除率,是其專利技術(shù)、結(jié)構(gòu)設(shè)計與工藝適配性的綜合體現(xiàn),核心依賴 “優(yōu)質(zhì)進水 + 精準運行 + 規(guī)范維護” 的三重保障。在工業(yè)超純水制備中,無論是半導體、電力還是制藥行業(yè),只要嚴格遵循技術(shù)要求,即可實現(xiàn)穩(wěn)定高效的脫硅效果,為生產(chǎn)工藝提供高純度水質(zhì)保障。
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